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  • HCGL-1000高溫管式爐測試儀
    HCGL-1000高溫管式爐測試儀

    更新時間:2023-08-09

    型號:HCGL-1000

    瀏覽量:1387

    高溫管式爐測試儀可以勻速、階梯(升\\降溫)、循環(huán)沖擊,真空、氣氛等多種的加熱方式,采用全電子控制技術(shù),可實(shí)現(xiàn)控制精度波動0.5°C以內(nèi),溫控精度之高。 加熱速度之快,同時它可以提供了材料的多的性測試環(huán)境。
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  • HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:2098

    HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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  • 醫(yī)用耐壓測試儀系列
    醫(yī)用耐壓測試儀系列

    更新時間:2023-08-21

    型號:

    瀏覽量:1851

    醫(yī)用耐壓測試儀系列是符合GB9706.1規(guī)則的交流耐壓測試儀,主要用于檢測醫(yī)用電子設(shè)備材料的絕緣強(qiáng)度等技術(shù)指標(biāo)。該儀器外形美觀、操作方便,輸出電壓由數(shù)字面板表顯示,清晰、直觀、準(zhǔn)確。整機(jī)技術(shù),布局合理,具有、可靠性好、維修方便等優(yōu)點(diǎn)。
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  • HCTZ-2S北京華測試驗(yàn)儀器四探針測試儀
    HCTZ-2S北京華測試驗(yàn)儀器四探針測試儀

    更新時間:2023-08-29

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:1661

    HCTZ-2S北京華測試驗(yàn)儀器四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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  • HCTD-800HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀
    HCTD-800HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:HCTD-800

    瀏覽量:2157

    HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測量,。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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  • HC-200S水平垂直燃燒儀
    HC-200S水平垂直燃燒儀

    更新時間:2023-08-21

    型號:HC-200S

    瀏覽量:1628

    水平垂直燃燒儀用于測試塑料類及非金屬材料類物質(zhì)燃燒的試驗(yàn)儀器。適用于塑料和非金屬材料試樣處于50W火焰條件下,水平或垂直方向燃燒的試驗(yàn)室測定方法。
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  • HCTD-800高溫鐵電測試儀/分析儀
    HCTD-800高溫鐵電測試儀/分析儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:HCTD-800

    瀏覽量:1926

    高溫鐵電測試儀/分析儀用于鐵電體的鐵電測量,本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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  • HCTZ-2S華測四探針測試儀
    HCTZ-2S華測四探針測試儀

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:1794

    HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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