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功能材料測(cè)試儀器

阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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HPZT-200華測(cè)儀器壓電系數(shù)/介電常數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-10-28

型號(hào)：HPZT-200

瀏覽量：754

HPZT-200華測(cè)儀器壓電系數(shù)/介電常數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。
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低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-10-31

型號(hào)：

瀏覽量：822

低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀器從根本上解決了，測(cè)量溫度、測(cè)量導(dǎo)線、電網(wǎng)諧波干擾，以及測(cè)量延長導(dǎo)線阻抗對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。在測(cè)量方式上進(jìn)行了一系列的創(chuàng)新。
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Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：Huace-DCS10KV

瀏覽量：791

儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料，主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。采用特殊高壓開關(guān)，通過單刀雙擲控制充電和放電過程，開關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短。電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 可外接高壓放大器電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 可外接高壓放大器
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HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：HuaceFE 2000

瀏覽量：773

精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)測(cè)試儀器將數(shù)字、模擬和通信電路功能與精密多鐵非線性材料試驗(yàn)機(jī)的現(xiàn)有非線性材料測(cè)量功能相結(jié)合，所有功能均由 Radiant 的 Vision 可編程測(cè)試環(huán)境監(jiān)督。
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華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：

瀏覽量：1089

華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境；超高溫度分辨率；特殊客制低溫系統(tǒng)；具有較好穩(wěn)定性
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Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：Huace-6S

瀏覽量：1080

半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)，可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試，采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。
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Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：

瀏覽量：1356

Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
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Huace-8D 雙面探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：

瀏覽量：1113

Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。
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