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  • 電弱點(diǎn)測試儀器 根據(jù)膜寬度不用切卷 新能源
    電弱點(diǎn)測試儀器 根據(jù)膜寬度不用切卷 新能源

    更新時(shí)間:2024-04-29

    型號:

    瀏覽量:1406

    電弱點(diǎn)測試儀器 根據(jù)膜寬度不用切卷 新能源外形為柜狀一體化設(shè)計(jì),左側(cè)為走膜及加壓裝置,右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等構(gòu)成面積檢測系統(tǒng);加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點(diǎn)檢測系統(tǒng)。
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  • 便攜式表面體積電阻率測試儀
    便攜式表面體積電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號:

    瀏覽量:2026

    便攜式表面體積電阻率測試儀采用飛安電流處理芯片;具有自動計(jì)算絕緣電阻、體積、表面電阻率功能、溫度、濕度在線檢測功能的測試設(shè)備。
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  • 華測-低壓漏電起痕測試儀器
    華測-低壓漏電起痕測試儀器

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號:

    瀏覽量:1377

    華測-低壓漏電起痕測試儀器適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門,也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會中的有關(guān)CHEARI-PTO03耐電痕化指數(shù)測試。
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  • Huace-300華測儀器表面體積電阻率測試儀
    Huace-300華測儀器表面體積電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-08-29

    型號:Huace-300

    瀏覽量:1867

    華測儀器表面體積電阻率測試儀用于絕緣油等液體絕緣介質(zhì)的介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量,一體化結(jié)構(gòu)。內(nèi)部集成了介損油杯、溫控儀、溫度傳感器、介損測試電橋、交流試驗(yàn)電源、標(biāo)準(zhǔn)電容器、高阻計(jì)、直流高壓源等主要部件。
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  • FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀
    FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀

    更新時(shí)間:2024-09-05

    型號:FDS 2000

    瀏覽量:1704

    半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀,是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論,集介電響應(yīng)測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。是我們?nèi)A測公司的優(yōu)質(zhì)儀器,售后好價(jià)格優(yōu)請您放心的選購。
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  • 華測-高阻計(jì)/電阻率測試儀
    華測-高阻計(jì)/電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號:

    瀏覽量:3762

    華測-高阻計(jì)/電阻率測試儀是一款即可測固體、液體、粉體、膏體材料,又可測量高電阻,還可測微電流信號的儀器。本儀器設(shè)備還具有體積小、重量輕、顯示速度迅速、穩(wěn)定、讀數(shù)方便等諸多優(yōu)點(diǎn)。
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  • FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)
    FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2024-09-05

    型號:FDS 2000

    瀏覽量:1225

    半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng),是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論,集介電響應(yīng)測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz,且在低頻范圍內(nèi)可以選用快速測試方式,在保證測試精度的前提下, 大幅減少實(shí)驗(yàn)室測量時(shí)的等待時(shí)間及現(xiàn)場測量的停電時(shí)間。
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  • 半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率測試儀
    半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2023-12-19

    型號:

    瀏覽量:1369

    半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率測試儀可以直接測量片狀、薄膜、板狀的產(chǎn)品以及其它導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的體積電阻率。在測量導(dǎo)電材料電阻率時(shí)采用四電極(四點(diǎn)探針或四探針)法測量,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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