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國標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCDJC-100KV絕緣漆擊穿電壓試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：HCDJC-100KV

瀏覽量：1072

華測(cè)絕緣漆擊穿電壓試驗(yàn)機(jī)滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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PLC系統(tǒng)、耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：

瀏覽量：1531

PLC系統(tǒng)、耐電弧試驗(yàn)儀：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗(yàn)方法。
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耐電弧試驗(yàn)儀、北京市海淀區(qū)華測(cè)*HCND-20kv

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：

瀏覽量：2972

耐電弧試驗(yàn)儀、北京市海淀區(qū)華測(cè)*HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗(yàn)方法。
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固體絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：

瀏覽量：1485

固體絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：本儀器是在相距6.35mm的兩鎢棒電極上，由間隙到連續(xù)施加12500Ｖ電壓和10～40mA工頻的電弧電流，使試樣表面經(jīng)受逐漸燃弧條件，從而較細(xì)地分辨出材料的耐電弧性，以從電弧產(chǎn)生至材料破壞所經(jīng)過的全部時(shí)間作為評(píng)定結(jié)果。
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計(jì)算機(jī)控制、耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：

瀏覽量：1784

計(jì)算機(jī)控制、耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗(yàn)方法。
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耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv

更新時(shí)間：2024-06-03

型號(hào)：

瀏覽量：2401

耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗(yàn)方法。
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HCDH-200、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

型號(hào)：HCDH-200、300

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耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器：耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

型號(hào)：

瀏覽量：1409

耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器：耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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