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  • HCMP華測多通道介電/電阻測試儀
    HCMP華測多通道介電/電阻測試儀

    更新時(shí)間:2024-11-18

    型號:HCMP

    瀏覽量:789

    華測多通道介電/電阻測試儀,主要用于:多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用; 光耦繼電器,高速又耐用; 切換時(shí)間 1 ms; 高速I/O 輸出控制。
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  • HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
    HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

    更新時(shí)間:2024-10-23

    型號:HCDH-3

    瀏覽量:1162

    華測高壓漏電起痕測試儀,是指在固體絕緣材料表面,在電場和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程。這個(gè)過程被稱為漏電起痕,而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法,通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境,測定材料的相比漏電起痕指數(shù)(CTI)和耐電痕化指數(shù)(PTI)。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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  • Huace-4華測  簡易探針臺(tái)
    Huace-4華測 簡易探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號:Huace-4

    瀏覽量:945

    華測 簡易探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測試人員把需要量測的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測的位置。
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  • HCWP華測儀器  高溫介電溫譜儀  絕緣電阻
    HCWP華測儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻

    更新時(shí)間:2024-11-20

    型號:HCWP

    瀏覽量:847

    華測儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說,其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體.
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  • HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測試儀
    HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測試儀

    更新時(shí)間:2024-11-20

    型號:HCZDJC-50-6000

    瀏覽量:883

    50點(diǎn)耐壓測試儀主要用于電氣用鋰電池隔膜,聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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  • HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-11-20

    型號:HCDH-4

    瀏覽量:811

    耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力,通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示,單位是秒。
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  • Huace-4華測半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)
    Huace-4華測半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-11-20

    型號:Huace-4

    瀏覽量:844

    華測半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測試人員把需要量測的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測的位置。
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  • Huace FE-3000鐵電分析儀
    Huace FE-3000鐵電分析儀

    更新時(shí)間:2024-11-22

    型號:Huace FE-3000

    瀏覽量:952

    可擴(kuò)展型 鐵電分析儀/陶瓷壓電Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。
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